3D表面粗糙度輪廓檢測(cè)儀 參考價(jià)：960000
SuperVieW3D表面粗糙度輪廓檢測(cè)儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等...
三維光學(xué)輪廓檢測(cè)儀 參考價(jià)：960000
SuperViewW1三維光學(xué)輪廓檢測(cè)儀通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。是...
中圖儀器3d光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：960000
SuperViewW1中圖儀器3d光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x是利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)...
中圖儀器3d輪廓測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：960000
SuperViewW1中圖儀器3d輪廓測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸...
光學(xué)3D表面輪廓儀 參考價(jià)：960000
SuperViewW1光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子...
中圖光學(xué)3D表面輪廓儀 參考價(jià)：960000
SuperViewW1中圖光學(xué)3D表面輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零...
光學(xué)3D輪廓儀三維形貌儀 參考價(jià)：960000
中圖儀器SuperViewW系列光學(xué)3D輪廓儀三維形貌儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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