產(chǎn)品特點(diǎn)：

只需按照制作流程進(jìn)行，即可在短時(shí)間內(nèi)完成考慮元件高度的測(cè)試程序
手臂干擾自動(dòng)運(yùn)算(配合UA1780使用)
配備超耐磨探針，測(cè)試次數(shù)10倍化，無需專用工具即可簡(jiǎn)單更換
檢測(cè)電氣元件的疑似接觸，實(shí)現(xiàn)工序的檢出率提升
合成元件的分離測(cè)試及隔離
用對(duì)元件無損的0.2V以下的電壓進(jìn)行測(cè)量

機(jī)型
FA1240-61 (對(duì)應(yīng)大尺寸基板)
FA1240-63 (對(duì)應(yīng)中型尺寸基板)
FA1241-61 (對(duì)應(yīng)CE 大尺寸基板)

產(chǎn)品功能：

通過電氣性能測(cè)試驗(yàn)證貼裝的準(zhǔn)確性
電氣測(cè)試的結(jié)果必定有測(cè)量值。
把不可見的電氣特性等可視化，確認(rèn)是否符合設(shè)計(jì)要求，以數(shù)值來保證出貨狀態(tài)。
在貼裝基板的測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)一定會(huì)配備手持式萬用表（DMM）。飛針測(cè)試機(jī)不僅僅是測(cè)量不明常數(shù)的芯片數(shù)值，而且通過小間距測(cè)點(diǎn)的接觸，可以自動(dòng)進(jìn)行IC引腳間的焊錫狀態(tài)、BGA復(fù)雜點(diǎn)位間的確認(rèn)等?看不到的部位的檢測(cè)?。
飛針測(cè)試機(jī)是在生產(chǎn)車間用來檢測(cè)基板是否正確貼裝的，同時(shí)也是可實(shí)現(xiàn)低成本少工序進(jìn)行電氣測(cè)試的檢測(cè)設(shè)備

切實(shí)檢測(cè)引腳的空焊和虛焊
引腳的空焊和虛焊是在基板生產(chǎn)工序中容易避過各種測(cè)試流到市場(chǎng)。
引腳的空焊通過實(shí)動(dòng)測(cè)試、功能測(cè)試以及現(xiàn)有的外觀檢查的方式，大部分都可能檢測(cè)出來。 但是對(duì)于外觀無法識(shí)別的虛焊的話，只能使用的電阻測(cè)試技術(shù)來檢測(cè)了。
通過4端子測(cè)試方法（開爾文方式）測(cè)量引腳與焊盤間的電阻值，確切的判別良品與虛焊時(shí)電阻值的差異。

精于GerberData的測(cè)點(diǎn)優(yōu)先理念
簡(jiǎn)單地程序制作 ≠ 簡(jiǎn)單地生產(chǎn)測(cè)試　這句話對(duì)一半錯(cuò)一半。 在離散編輯的時(shí)代可能說得通，但現(xiàn)在FA1240所追求的是「簡(jiǎn)單地-正確地-制作測(cè)試程序」。
讓測(cè)試機(jī)動(dòng)作的程序與可做出貨檢測(cè)用的程序之間的差異化越小，（依程序調(diào)試時(shí)間）產(chǎn)線停線時(shí)間就越短，就可使產(chǎn)品安心出貨。
「迅速地」制作「可用的」測(cè)試程序，是GerberData與MountData共同配合的結(jié)果。
數(shù)據(jù)制作軟件 FIT-LINE UA1780

數(shù)據(jù)制作時(shí)間1/10, 產(chǎn)線停止時(shí)間1/15
與UA1780程序制作軟件(選件)配套使用，減少返工作業(yè)，可在*短時(shí)間內(nèi)完成高質(zhì)量的測(cè)試程序制作。
有「飛針測(cè)試機(jī)的測(cè)試程序制作起來好麻煩?。　惯@樣想法的人，請(qǐng)務(wù)必要體驗(yàn)一下新的程序制作軟件。

采用視窗化的工作流程圖指引
這是只需按照工作流程圖指引，即可一路完成測(cè)試程序制作的系統(tǒng)。 這是不僅平?？梢院?jiǎn)單地進(jìn)行數(shù)據(jù)制作，后續(xù)跟進(jìn)人員在看過后也可把握進(jìn)度的簡(jiǎn)單系統(tǒng)。

不會(huì)碰撞元件的自動(dòng)下針測(cè)試
您是否仍在進(jìn)行著一邊看著探針針尖，一邊在擔(dān)心「碰到了嗎？、沒碰到嗎？」這樣的確認(rèn)作業(yè)呢？
如果無需人工選擇探針的話，作業(yè)員的調(diào)試工時(shí)也會(huì)大幅縮短。 在FA1240測(cè)試程序上預(yù)先登錄了每個(gè)元件的高度與貼裝尺寸。根據(jù)這些信息，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)地選擇測(cè)試探針（也有可能選擇無法使用的探針）。這樣就可以安心地進(jìn)行電氣特性測(cè)試的調(diào)試了。

新型超硬探針
新型超硬探針即使經(jīng)過300萬次的測(cè)試，針尖也無磨損。
減少了探針的更換作業(yè)，同時(shí)對(duì)小測(cè)點(diǎn)的測(cè)試性能提升也縮短了測(cè)試時(shí)間。
針尖磨損是導(dǎo)致探針打滑的主要原因，不僅導(dǎo)致Onepass率低下，嚴(yán)重時(shí)還會(huì)對(duì)測(cè)試基板造成損傷。所以探針質(zhì)量也是評(píng)估測(cè)試設(shè)備性能的一個(gè)重要的項(xiàng)目。