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混疊測試圖走樣畸變測試卡

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更新時間：2022-09-19 10:36:21瀏覽次數：129次

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產品簡介

TE173專門用于測量走樣?；殳B效應是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。

詳細介紹


TE173專門用于測量走樣?；殳B效應是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。獨立于類型的相機混疊效應會產生干擾的動機如位圖和電視行結構。的百葉簾效果或紡織品條紋圖案。

 

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